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IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY

主办单位:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

出版周期: 未知

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出版物的范围包括但不限于: 器件、材料、工艺、接口、集成微系统 (包括MEMS和传感器) 、晶体管、技术 (CMOS、BiCMOS、等) 、集成电路 (IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI等) 、薄膜晶体管的应用。在每个阶段测量和理解这些实体的可靠性,从概念阶段到研究和开发,再到制造规模扩大,提供了关于设备可靠性的总体数据库。产品成功推向市场的材料、工艺、包装和其他必需品。这个可靠性数据库是高质量产品的基础,符合客户的期望。如此开发的产品具有很高的可靠性。将获得高质量的产品,因为产品弱点将被发现 (根本原因分析),并设计出最终产品。这种不断提高可靠性和质量的过程将产生卓越的产品。最后,可靠性和质量不是一回事,而是从某种意义上说,为了保证产品在客户条件下在现场成功地表现出来,可以做或必须做的一切。我们的目标是抓住这些进展。另一个目标是将交叉受精通信集中在电子材料和设备可靠性的最新技术中,并提供影响可靠性的基本现象的基本理解。此外,该出版物是可靠性跨学科研究的论坛。总体目标是提供前沿/最先进的信息,这与创建可靠的产品至关重要。
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