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IEEE DESIGN & TEST

主办单位:IEEE Computer Society

出版周期: 未知

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IEEE Design & Test提供了原始作品,描述了用于设计和测试微电子系统的模型、方法和工具,从器件和电路到完整的片上系统和嵌入式软件。该杂志专注于当前和不久的将来的实践,包括教程,如何做的文章,和现实世界的案例研究。该杂志不仅通过专栏、访谈和圆桌讨论为读者带来重要的技术进步,而且还为读者带来技术领导者的观点。主题包括半导体集成电路设计,半导体知识产权模块,设计,验证和测试技术,制造和产量设计,嵌入式软件和系统,低功耗和节能设计,电子设计自动化工具、实用技术、标准。
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