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IET Computers & Digital Techniques发表了技术论文,描述了电子和嵌入式系统的数字芯片设计和测试的各个方面的最新研究和开发工作,包括设计自动化工具 (方法学、算法和体系结构) 的开发。基于CMOS技术缩小相关问题的论文尤其受欢迎。它面向计算机和数字系统设计和测试领域的研究人员、工程师和教育工作者。感兴趣的重点学科领域是: 设计方法和工具: CAD/EDA工具、硬件描述语言、高层和建筑综合、硬件/软件协同设计、基于平台的设计,三维堆叠和电路设计,系统片上架构和IP核、嵌入式系统、逻辑综合、低功耗设计和功耗优化。仿真、测试和验证: 电气和时序仿真、基于仿真的验证、硬件/软件协同仿真和验证、混合域技术建模和仿真、硅后验证、功率分析和估计,互连建模和信号完整性分析,硬件信任和安全、可测试性设计、嵌入式核心测试、片上系统测试、在线测试、自动测试生成和延迟测试、低功耗测试、可靠性、故障建模和容错处理器和系统体系结构: 多核系统、通用和专用处理器、DSP应用的计算算法、算术和逻辑单元、高速缓存、内存管理、协处理器和加速器、芯片上的系统和网络、嵌入式核心、平台、多处理器、分布式系统、通信协议和低功耗问题。可配置计算: 嵌入式核心、fpga、快速原型、自适应计算、可进化的、静态和动态的可重构和可重构的系统、可重构的硬件。可变性的设计,电源和老化: 可变性的设计方法,电源和老化感知设计,存储器,fpga,IP组件,3D堆叠,能量收集。案例研究: 新兴的应用,工业设计中的应用,设计框架。

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